[发明专利]具有JFET区布图设计的半导体器件在审

专利信息
申请号: 201910677448.X 申请日: 2019-07-25
公开(公告)号: CN112289845A 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 张永杰;李浩南;陈伟钿;周永昌 申请(专利权)人: 创能动力科技有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/10;H01L29/78;H01L21/336;H01L27/02
代理公司: 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 代理人: 宋建平
地址: 中国香港新界大埔白石角*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明公开具有JFET区布图设计的半导体器件。半导体器件包括半导体层、阱区、源区、栅区、漏电极层、和JFET区。半导体层具有第一面和第二面,半导体层包括基底和漂移区。阱区设置在漂移区中并且从第一面朝向基底的方向延伸。源区设置在阱区中,栅区设置在第一面上并且与源区和阱区接触。漏电极层设置在第二面上。JFET区设置在漂移区中并且从第一面朝向基底的方向延伸,JFET区与栅区接触,JFET区包括多个JFET子区,在顶平面视图下,相邻JFET子区被阱区隔开。根据本发明的半导体器件具有更好的电流能力和电压阻断能力、更好的可靠性、稳定性。
搜索关键词: 具有 jfet 区布图 设计 半导体器件
【主权项】:
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