[发明专利]一种自适应测评方法、装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 201910686867.X | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN110489454A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 乔丹·奈尔森·施特格尔;尹天骄;许晓秋;杜舒 | 申请（专利权）人： | 北京大米科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/2457 | 分类号： | G06F16/2457;G06Q10/06;G06Q50/20;G09B5/14;H04L29/08 |
| 代理公司： | 11528 北京恒博知识产权代理有限公司 | 代理人： | 于利晓<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 100007 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种自适应测评方法、装置、存储介质及电子设备，其中，方法包括：基于学生所对应的教学等级向学生推送题库中的至少一个第一难度试题，获取学生针对至少一个第一难度试题的第一答案信息；提取第一答案信息的第一特征信息，基于第一特征信息，计算第一答案信息的第一正确率；基于第一正确率，向学生推送至少一个目标难度试题；获取学生针对至少一个目标难度试题的第二答案信息；提取第二答案信息的第二特征信息，基于第二特征信息，计算第二答案信息的第二正确率；基于第二正确率，确定学生的测评结果。因此，采用本申请实施例，可以根据学生的实际情况推送合适的测试题目，可以精准为各个学生进行个性化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 答案信息 特征信息 正确率 学生 试题 推送 测评 测试题目 存储介质 电子设备 题库 自适应 申请 个性化 测试 教学 | ||
【主权项】：
1.一种自适应测评方法，其特征在于，所述方法包括：/n基于学生所对应的教学等级向所述学生推送题库中的至少一个第一难度试题，获取所述学生针对所述至少一个第一难度试题的第一答案信息；/n提取所述第一答案信息的第一特征信息，基于所述第一特征信息，计算所述第一答案信息的第一正确率；/n基于所述第一正确率，向所述学生推送至少一个目标难度试题；/n获取所述学生针对所述至少一个目标难度试题的第二答案信息；/n提取所述第二答案信息的第二特征信息，基于所述第二特征信息，计算所述第二答案信息的第二正确率；/n基于所述第二正确率，确定所述学生的测评结果。/n
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