[发明专利]利用内嵌ROM对FLASH进行测试的方法及装置在审
| 申请号： | 201910688088.3 | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN110427292A | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 王宏伟;张鹏;段霆 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 蒋学超 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了利用内嵌ROM对FLASH进行测试的方法及装置，其中方法包括：通过起始信号启动FLASH的BIST测试；根据BIST测试指令向FLASH中对应的地址通道赋予初始地址；从内嵌ROM获取所需数据类型的数据向量；将获取的数据向量写入FLASH中。本发明通过把有规律的数据向量存储在内嵌的ROM内，避免了利用SPI接口将数据逐位从串行口处输入，从而提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 数据向量 内嵌 测试 测试效率 测试指令 初始地址 地址通道 起始信号 数据类型 串行口 逐位 写入 存储 赋予 | ||
【主权项】：
1.利用内嵌ROM对FLASH进行测试的方法，其特征在于，所述方法包括：通过起始信号启动FLASH的BIST测试；根据BIST测试指令向FLASH中对应的地址通道赋予初始地址；从内嵌ROM获取所需数据类型的数据向量；将获取的数据向量写入FLASH中。
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