[发明专利]集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法有效
| 申请号： | 201910688561.8 | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN110412496B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 郭敏;王亚海;丁志钊;朱学波;王尊峰;阎涛 | 申请（专利权）人： | 中电科思仪科技股份有限公司;中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 李琳 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 参数 测试仪 测试 功能 快速 自检 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种多参数测试仪的测试功能快速自检电路，其特征在于，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，所述通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；所述信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检。
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