[发明专利]用于确定AMZI相位调制器半波电压的装置和方法有效
| 申请号： | 201910693028.0 | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN110411715B | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 李骁;安俊明;王玥;任梅珍;王亮亮;张家顺;尹小杰;吴远大 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01B9/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于确定AMZI相位调制器半波电压的装置，包括：依次连接的激光器(1)、光斩波器(2)、待测AMZI(3)以及光功率计(4)；以及信号发生器(5)，电压源(6)以及温度控制器(7)，其中，信号发生器(5)与光斩波器(2)连接，信号发生器(5)向光斩波器(2)发送调制方波信号，以使光斩波器(2)在调制方波信号的作用下将激光调制成光脉冲序列，电压源(6)与待测AMZI(3)中的相位调制器连接。改变电压值至功率值变化覆盖一次最小值与最大值为止，此最大、最小值分别对应的电压之差即为半波电压。该装置结构简单，成本低，易于操作，可以快速测出AMZI相位调制器的半波电压。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 amzi 相位 调制器 电压 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定AMZI相位调制器半波电压的装置，包括：依次连接的激光器(1)、光斩波器(2)、待测AMZI(3)以及光功率计(4)，所述激光器(1)用于产生连续波激光，光功率计(4)用于测量所述待测AMZI(3)的输出功率；以及信号发生器(5)、电压源(6)与温度控制器(7)，其中，所述信号发生器(5)与所述光斩波器(2)连接，所述信号发生器(5)向所述光斩波器(2)发送调制方波信号，以使所述光斩波器(2)在所述调制方波信号的作用下将所述激光调制成光脉冲序列，所述温度控制器(7)用于控制所述待测AMZI(3)的温度，所述待测AMZI(3)包括相位调制器(3‑4)，所述电压源(6)与所述相位调制器(3‑4)连接，通过改变电压源(6)电压以使相位调制器(3‑4)改变相位进而改变所述待测AMZI(3)的输出功率，以得到所述功率值最大和最小时对应的电压值，所述功率值最大和最小时对应的电压差即为所述待测AMZI(3)的半波电压。
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