[发明专利]基于EPI的光场图像特征点检测方法

摘要

本发明公开一种基于EPI的光场图像特征点检测方法，具体按照以下步骤实施：步骤1，输入光场图像做预处理，子孔径图像矩阵；步骤2，对子孔径图像矩阵中中间行的子孔径图像做处理，提取中间行的子孔径图像中每一行像素的EPI图像作为EPI图像集合；步骤3，对EPI图像集合中每个EPI图像进行SIFT特征点检测，得到特征点集合a；步骤4，保留特征点集合a中在每个SIFT尺度下都存在的特征点，记为特征点集合b；步骤5，对特征点集合b中的特征点进行指标量化排序，根据不同光场图像的情况，保留排序前40％～60％的特征点作为最终光场图像的特征点。本发明解决了现有光场图像特征点检测中存在的特征点较少且不稳定的问题。

主权项

1.基于EPI的光场图像特征点检测方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：/n步骤1，输入光场图像，对所述光场图像进行预处理，得到光场图像的子孔径图像矩阵；/n步骤2，对所述子孔径图像矩阵中中心行的所有子孔径图像的每行进行操作，提取中间行的子孔径图像中每一行像素的EPI图像作为EPI图像集合；/n步骤3，对所述EPI图像集合中每个EPI图像进行SIFT特征点检测，得到特征点集合a；/n步骤4，保留所述特征点集合a中在每个SIFT尺度下都存在的特征点，记为特征点集合b，其余的剔除；/n步骤5，对所述特征点集合b中的特征点进行指标量化排序，保留排序前40％～60％的特征点即为光场图像的特征点。/n