[发明专利]光学粒子传感器装置及对应的粒子测量方法在审
| 申请号： | 201910696142.9 | 申请日： | 2019-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN110779840A | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 斯特凡·魏斯;亚历山大·赫尔曼;罗伯特·沃尔夫;泽伦·索夫克 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司;特鲁普光子元件有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N15/10;G01N15/00;G01P3/36 |
| 代理公司： | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龚伟;李鹤松 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供光学粒子传感器装置及对应的粒子测量方法。光学粒子传感器装置具备：具有光学出射区域(OF)的壳体(MD)；布置在壳体(MD)中并被设置为发射至少一个光学测量光束(OB)的光学发射器设备(LD)；布置在壳体(MD)中用于引导光学测量光束(OB)通过光学出射区域(OF)到达壳体(MD)外部聚焦区域(FA)内的聚焦透镜设备(LE)；布置在壳体(MD)中并被设置为捕获由粒子(P)散射的测试光束(OB’)并被实施为输出利用算法产生的信息的光学检测器设备(DD)；及能够控制的调节设备(C,E)，被设置为调节透镜设备(LE)和/或光学发射器设备(LD)和/或光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性。 | ||
| 搜索关键词： | 壳体 光学测量光束 传感器装置 光学发射器 光学检测器 出射区域 光学粒子 测试光束 调节设备 光学属性 聚焦区域 聚焦透镜 粒子测量 透镜设备 散射 算法 捕获 粒子 输出 发射 外部 | ||
【主权项】：
1.一种光学粒子传感器装置(SE)，包括：/n具有光学出射区域(OF)的壳体(MD)；/n光学发射器设备(LD)，其被布置在壳体(MD)中并被设置为发射至少一个光学测量光束(OB)，用于捕获粒子；/n布置在壳体(MD)中的聚焦透镜设备(LE；LE’；LE”)，用于引导光学测量光束(OB)通过光学出射区域(OF)到达壳体(MD)外部能够执行粒子捕获的聚焦区域(FA)中；以及/n光学检测器设备(DD)，其被布置在壳体(MD)中并且被设置为捕获由粒子(P)散射的测量光束(OB’)并且被实施为输出与粒子(P)的存在相关的利用算法产生的信息；/n其特征在于,/n能够控制的调节设备(C，E；C’，SI；C”，SI)，在光学出射区域(OF)与聚焦区域(FA)之间的壳体(MD)外部存在外部光学窗口(EF)的情况下，所述能够控制的调节设备(C，E；C’，SI；C”SI)被设置为基于输入信号(ES；ES’)来调节透镜设备(LE；LE’；LE”)和/或光学发射器设备(LD)和/或光学检测器设备(DD)的至少一个光学属性，所述输入信号(ES；ES’)提供与外部光学窗口(EF)的存在相关的信息以及与外部光学窗口(EF)的光学属性相关的信息，使得能够在外部光学窗口(EF)以外进行粒子捕获。/n
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