[发明专利]一种定量评定双重晶粒度的方法有效
| 申请号： | 201910697220.7 | 申请日： | 2019-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN110501364B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 吴园园;张珂;金传伟;关云 | 申请（专利权）人： | 江苏省沙钢钢铁研究院有限公司;张家港宏昌钢板有限公司;江苏沙钢集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203;G01N23/20058 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215625 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种定量评定双重晶粒度的方法，该方法选取有双重晶粒的试样进行分析，并按照电子背散射衍射的要求进行制样，随机选取多个区域进行扫描，得到所有晶粒的数据信息，对晶粒尺寸的数据进行统计分析并分类评定。对于双峰状态的双重晶粒评定，先确定细晶区与粗晶区的界限，再根据提出的公式定量评定出细晶区和粗晶区的晶粒度级别，并根据数据计算出各自所占的面积百分比。此种方法评定的晶粒度级别和面积百分比结果准确，完全符合晶粒度评定的要求。尤其可解决传统的金相法无法对有织构的试样进行腐蚀评级的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 定量 评定 双重 晶粒 方法 | ||
【主权项】：
1.一种定量评定双重晶粒度的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n(1)将待测试样进行研磨抛光，以满足电子背散射衍射分析要求为标准，无需进行腐蚀；/n(2)将制备好的试样进行电子背散射衍射分析，随机选取多个区域进行扫描，得到所有晶粒的数据信息；/n(3)对所有区域内数据点进行统计分析，得到细晶区和粗晶区的临界平均等积圆直径；/n(4)背散射衍射计算晶粒度级别
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