[发明专利]一种低温辐射计用测试集成装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201910697814.8 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110440911B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 庄新港;史学舜;刘红博;张鹏举;刘长明;王恒飞 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 林琪超
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种低温辐射计用测试集成装置及测试方法,该装置是集布儒斯特窗口透过率、光束对准装置安装调试与杂散光测试功能于一体的紧凑型集成装置,该装置结构简单、测试精度高。与现有利用两个探测器进行布儒斯特窗口透过率测试装置相比,本发明所设计方案利用电控平移台和同一探测器进行布儒斯特窗口透过率测试,有利于消除不同探测器之间的响应差异,提高探测精度。本发明提出利用探测离轴抛物面镜透过率的方法间接检测杂散光光功率,有利于消除四象限探测器外围杂散光以及探测器对极微弱光功率测试精度差造成对杂散光测试准确性差的问题。
搜索关键词: 一种 低温 辐射计 测试 集成 装置 方法
【主权项】:
1.一种低温辐射计用测试集成装置,其特征在于,包括主简体,主简体的上部设置有布儒斯特窗口透过率测试窗口和杂散光测试窗口,主简体的下部设置有四象限探测器安装真空法兰,主简体的内部设置有离轴抛物面反射镜;主简体的前端连接有前端真空法兰,主简体的后端连接有后端真空法兰。
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