[发明专利]光传感器性能检测方法及其检测系统在审
| 申请号： | 201910711613.9 | 申请日： | 2019-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN112304422A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 戴光胜;王丽云 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种光传感器性能检测方法及其检测系统，所述检测方法包括(1)在标准光源值单元中存储各型号光传感器的标准光源值；(2)在输入单元输入待检测的光传感器的料号；(3)查询单元根据输入的料号查找标准光源值单元中该料号的光传感器对应的标准光源值；(4)光源照射单元校正所述光传感器初始状态的光照强度值；(5)检测单元检测校正后的光传感器的光照强度值；(6)对比单元将检测单元检测到的光照强度值与标准光源值单元的标准光源值进行对比判断，得出一检测结果；(7)显示单元显示所述检测结果；(8)存储单元将所述检测结果进行存储。本发明不仅避免了误输造成检测错误的问题，还可以通过自动判断测试信息，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 性能 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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