[发明专利]一种光电耦合器辐射效应测试方法有效
| 申请号： | 201910712554.7 | 申请日： | 2019-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN110426581B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 王祖军;徐瑞;薛院院;宁浩;焦仟丽;刘敏波;姚志斌;何宝平;马武英;盛江坤;董观涛 | 申请（专利权）人： | 湘潭大学;西北核技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26;G01R31/27 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 郑丽红 |
| 地址： | 411105 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光电耦合器辐射效应测试系统及测试方法，解决现有光电耦合器辐射效应测试方法过程繁琐、数据点较少、耗时耗力、测试效率较低的问题。该测试系统包括光耦固定模块、源表测量模块和PC控制模块；光耦固定模块包括电路板，电路板上设置有源表输入端接口和插座，插座上设置有光电耦合器引脚接口，用于固定连接光电耦合器，源表测量模块与源表输入端接口连接，用于给光电耦合器提供电流或电压，同时对光电耦合器的测试数据进行实时测量；PC控制模块通过GPIB‑USB转换卡与源表测量模块连接，对源表测量模块进行调试与控制，并实时采集与记录测量数据。同时，本发明还提供一种光电耦合器辐射效应测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 耦合器 辐射 效应 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光电耦合器辐射效应测试系统，其特征在于：包括光耦固定模块、源表测量模块和PC控制模块；所述光耦固定模块包括电路板(1)，所述电路板(1)上设置有输入端接口插座(6)和光耦插座(5)，所述输入端接口插座(6)上设置有源表输入端接口(3)，所述光耦插座(5)上设置有光电耦合器引脚接口(4)，所述光电耦合器引脚接口(4)用于固定连接光电耦合器；所述源表测量模块与源表输入端接口(3)连接，用于给光电耦合器提供电流或电压，同时对光电耦合器的测试数据进行实时测量；所述PC控制模块通过GPIB‑USB转换卡与源表测量模块连接，对源表测量模块进行调试与控制，并实时采集、记录测量数据。
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