[发明专利]真空处理装置有效

专利信息
申请号: 201910717248.2 申请日: 2019-08-05
公开(公告)号: CN112323034B 公开(公告)日: 2023-10-17
发明(设计)人: 郭久林;张志强;杨志刚 申请(专利权)人: 武汉光谷创元电子有限公司
主分类号: C23C14/48 分类号: C23C14/48;C23C14/32;C23C14/35;C23C14/56
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘林华;金飞
地址: 430070 湖北省武汉市东湖开发区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种真空处理装置(1),包括:上料系统(10),构造成将基材(100)送入真空处理装置(1)中;设置在真空腔体(C)内的离子源系统(20),包括前处理模块、离子注入模块(22)、多弧离子镀沉积模块(23)以及磁控溅射模块(24),以对基材(100)进行处理;电源系统(30),为离子源系统(20)中的各个模块提供电力;移动系统(40),构造成移动基材(100)以使其经过离子源系统(20)中的各个模块;以及下料系统(50),构造成从真空处理装置(1)取出处理后的基材(100)。这种真空处理装置具有高效率、自动化、低成本的特点,能够实现数量众多的小型多面体块状器件的连续金属化。
搜索关键词: 真空 处理 装置
【主权项】:
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