[发明专利]用于后制作通孔的贯通孔的方法和装置在审
申请号: | 201910725136.1 | 申请日: | 2013-03-28 |
公开(公告)号: | CN110491832A | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 陈思莹;陈保同;杨敦年;刘人诚 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/498;H01L27/146;H01L23/538 |
代理公司: | 11409 北京德恒律治知识产权代理有限公司 | 代理人: | 章社杲;李伟<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;TW |
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摘要: | 本发明提供了用于形成后制作通孔的贯通孔的方法。一种方法包括提供具有正面和相对的背面的有源器件晶圆,该正面包括设置在介电层中的导电互连材料;提供具有填充有氧化物的通孔的载具晶圆,该通孔从载具晶圆的第一表面延伸至载具晶圆的第二表面;将有源器件晶圆的正面接合至载具晶圆的第二表面;蚀刻载具晶圆的贯通孔中的氧化物以形成氧化物贯通孔;以及在氧化物贯通孔内沉积导电材料以形成导体,该导体延伸至有源器件晶圆并且与导电互连材料电接触。一种装置包括具有氧化物贯通孔的载具晶圆,该氧化物贯通孔延伸穿过载具晶圆到达与载具晶圆接合的有源器件晶圆。本发明还提供了用于后制作通孔的贯通孔的装置。 | ||
搜索关键词: | 晶圆 载具 贯通孔 氧化物 源器件 通孔 导电互连材料 第二表面 接合 沉积导电材料 导体 蚀刻 导体延伸 第一表面 延伸穿过 电接触 介电层 填充 制作 延伸 | ||
【主权项】:
1.一种制造半导体装置的方法,包括:/n在载具晶圆中形成至少一个通孔,其中,所述载具晶圆包括彼此相对的第一侧和第二侧,并且所述通孔包括分别位于所述第一侧和所述第二侧的第一端和第二端;/n用氧化物填充所述至少一个通孔;/n将所述载具晶圆安装至第二晶圆,使得所述载具晶圆的第二侧接合所述第二晶圆;/n穿过填充所述至少一个通孔的所述氧化物蚀刻贯通孔,以形成氧化物贯通孔,其中,所述氧化物贯通孔包括与所述第一端重合的第三端和位于所述第二晶圆中的第四端,所述第一端的宽度与所述第三端的宽度相同,并且所述第二端的宽度大于所述第一端、所述第三端和所述第四端的宽度;以及/n用导体填充所述氧化物贯通孔。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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