[发明专利]一种具有恢复特性的复合二极管结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201910725843.0 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN110518013B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 饶祖刚;王民安;项建辉;郑科峰 申请(专利权)人: 黄山芯微电子股份有限公司
主分类号: H01L27/07 分类号: H01L27/07;H01L29/32;H01L21/82
代理公司: 芜湖众汇知识产权代理事务所(普通合伙) 34128 代理人: 曹宏筠
地址: 245000 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种具有超快恢复特性的复合二极管结构及其制造方法,该二极管包括N+衬底,位于N+衬底背面的金属化阴极和位于N+衬底正面的N型外延层;所述N型外延层上设置有一组向N型外延层内延伸的P区,所述P区在硅片有源区的N型外延层上均匀分布;相邻P区之间的N型外延层表面设置有一层采用等离子体轰击方式形成的缺陷层,所述P区和缺陷层上设置有一层肖特基势垒金属,肖特基势垒金属上设置有金属化阳极。该器件结构及其制造方法简单且易于实现,能够获得更快的恢复时间,降低器件的开关功耗,可以用于制造具有超快恢复特性的复合二极管(MPS)领域。
搜索关键词: 一种 具有 恢复 特性 复合 二极管 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种具有超快恢复特性的复合二极管结构,包括N+衬底(109),位于N+衬底(109)背面的金属化阴极(108)和位于N+衬底(109)正面的N型外延层(100);其特征在于:所述N型外延层(100)上设置有一组向N型外延层(100)内延伸的P区(103),所述P区(103)在N型外延层(100)上均匀分布;相邻P区(103)之间的N型外延层(100)表面设置有一层采用等离子体轰击方式形成的缺陷层(105),所述P区(103)和缺陷层(105)上设置有一层肖特基势垒金属(106),所述肖特基势垒金属(106)与N型外延层(100)上的缺陷层(105)间设置有肖特基势垒结(111),肖特基势垒金属(106)上设置有金属化阳极(107)。/n
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