[发明专利]一种压力信号的校正方法及装置有效
| 申请号： | 201910726476.6 | 申请日： | 2019-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN110427126B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 高硕;黄安彪;徐立军 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人： | 吴迪 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种压力信号的校正方法，该方法包括：根据完全接触电极响应第一按压操作所产生的电容值、部分接触电极响应第一按压操作所产生的电容值和第一按压操作接触区域相邻的无接触电极响应第一按压操作所产生的电容值，计算得到所述第一按压操作接触区域的面积；所述完全接触电极和部分接触电极均位于所述接触区域内；根据所述接触区域的中心位置、目标位置、所述中心位置的电容值和目标位置的电容值，计算所述第一按压操作的接触角度；所述目标位置是接触区域中电容值最小的点；根据所述接触区域的面积和接触角度，对第一按压操作产生的压力信号进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 压力 信号 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种压力信号的校正方法，其特征在于，包括：根据完全接触电极响应第一按压操作所产生的电容值、部分接触电极响应第一按压操作所产生的电容值和第一按压操作接触区域相邻的无接触电极响应第一按压操作所产生的电容值，计算得到所述第一按压操作接触区域的面积；所述完全接触电极和部分接触电极均位于所述接触区域内；根据所述接触区域的中心位置、目标位置、所述中心位置的电容值和目标位置的电容值，计算所述第一按压操作的接触角度；所述目标位置是接触区域中电容值最小的点；根据所述接触区域的面积和接触角度，对第一按压操作产生的压力信号进行校正。
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