[发明专利]绝缘子积污预测方法、系统、电子装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 201910727560.X 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN110428108A 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 梅红伟;杨佳欣;王黎明 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04;G06Q10/00;G06Q50/06
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 曾昭毅;郑海威
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种绝缘子积污预测方法,包括:获取被监测绝缘子的结构参数以及预设时间长度内所述绝缘子所处环境的环境参数;将所述预设时间长度离散为多个时间单元,根据所述获取到的绝缘子结构参数以及每个时间单元对应的环境参数计算每个时间单元内绝缘子表面整体积污量;根据所述每个时间单元内绝缘子表面整体积污量,计算在所述预设时间长度内绝缘子表面的积污总量。本发明还提供一种绝缘子积污预测系统、电子装置及存储介质。本发明基于时间历程进行绝缘子积污预测,灵活性强、预测结果更贴近实际情况。
搜索关键词: 绝缘子 时间单元 绝缘子表面 预设 存储介质 电子装置 环境参数 预测 绝缘子结构 结构参数 时间历程 预测结果 预测系统 监测
【主权项】:
1.一种绝缘子积污预测方法,其特征在于,所述方法包括:获取被监测绝缘子的结构参数以及预设时间长度内所述绝缘子所处环境的环境参数,其中,所述环境参数包括但所述绝缘子所处输变电设备的直流电压等级值、所述绝缘子所处环境中污染物浓度值、风速、降雨量,所述绝缘子的结构参数包括绝缘子的型号参数;将所述预设时间长度离散为多个时间单元,根据所述获取到的绝缘子结构参数以及每个时间单元对应的环境参数计算每个时间单元内绝缘子表面整体积污量;根据所述每个时间单元内绝缘子表面整体积污量,计算在所述预设时间长度内绝缘子表面的积污总量。
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