[发明专利]一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法在审
| 申请号： | 201910728432.7 | 申请日： | 2019-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN110426453A | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 吴佳晔;刘涛;张益雄;杨森;邓立;刘秀娟;陈秀秀;王伟;杨玲;陈靓 | 申请（专利权）人： | 四川升拓检测技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/22;B61K9/08 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 伍星 |
| 地址： | 643000 四川省自*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，包括以下步骤：(a)在轨道板上布置若干测点，沿测点将整块轨道板进行逐点敲击；(b)接收敲击轨道板后产生的冲击弹性波信号；(c)进行数列变换、频谱解析，提取轨道板底面的反射信号与自密实混凝土底面的反射信号；(d)根据轨道板底面反射能量均值、自密实混凝土底面反射能量均值的比值大小来判断脱空程度。本发明的目的在于提供一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，以解决现有技术中的检测方法中反射能量平均后峰值不明显、能量极值不能完全反应出真正的反射位置和重复性测试结果有差异的问题，实现提高检测结果的可靠性与重复性的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 轨道板 脱空 反射能量 无损检测 自密实混凝土 检测 反射信号 敲击 弹性波信号 轨道板底面 重复性测试 反射位置 检测结果 频谱解析 数列变换 测点 底面 整块 | ||
【主权项】：
1.一种提高CRTSⅢ型轨道板脱空检测精度的无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(a)在轨道板上布置若干测点，沿测点将整块轨道板进行逐点敲击；(b)接收敲击轨道板后产生的冲击弹性波信号；(c)进行数列变换、频谱解析，提取轨道板底面的反射信号与自密实混凝土底面的反射信号；(d)根据轨道板底面反射能量均值、自密实混凝土底面反射能量均值的比值大小来判断脱空程度。
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