[发明专利]检测透射式光学系统任意波长焦距的方法有效

专利信息
申请号: 201910728724.0 申请日: 2019-08-08
公开(公告)号: CN110307963B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 韩森;张齐元;庄锦程;王全召;李雪园 申请(专利权)人: 苏州维纳仪器有限责任公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 215123 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种检测透射式光学系统任意波长焦距的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,对光学系统的焦距进行测量,得到光学系统λ0的焦距f(λ0);步骤二,对光学系统的后截距进行测量,得到光学系统λ1~λm的后截距l(λ1)、l(λ2)……l(λm);步骤三,将l(λ1)、l(λ2)……l(λm)代入后截距与波长的方程,计算Al、Bl、Cl和Dl的值;步骤四,将计算得到的Al、Bl、Cl、Dl的值代入截距与波长方程,计算波长为λ0和λn的光学系统后截距l(λ0)和l(λn);步骤五,通过l(λ0)和l(λn)计算后截距的间隔步骤六,通过f(λ0)和计算焦距f(λn),光学系统为单波长系统、消色差系统、复消色差系统中的任意一种。
搜索关键词: 检测 透射 光学系统 任意 波长 焦距 方法
【主权项】:
1.一种检测透射式光学系统任意波长焦距的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,使用测量焦距的仪器对光学系统的焦距进行测量,得到光学系统λ0的焦距f(λ0);步骤二,使用测量后截距的装置对光学系统的后截距进行测量,得到光学系统λ1~λm的后截距l(λ1)、l(λ2)……l(λm);步骤三,将步骤二得到m种波长的后截距l(λ1)、l(λ2)……l(λm)代入后截距与波长的方程,m=1,2,3,4,计算Al、Bl、Cl和Dl的值;步骤四,将计算得到的Al、Bl、Cl和Dl的值代入公式(1)中,分别计算波长为λ0和λn的光学系统后截距l(λ0)和l(λn);步骤五,将计算得到的l(λ0)和l(λn)代入公式(2)中,计算λ0和λn的光学系统后截距的间隔步骤六,将测量得到的f(λ0)和计算得到的代入公式(3)中,计算波长为λn的光学系统焦距f(λn),其中,所述光学系统为单波长系统、消色差系统以及复消色差系统中的任意一种。
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