[发明专利]飞行时间质谱分析装置和记录介质有效
申请号: | 201910730755.X | 申请日: | 2019-08-08 |
公开(公告)号: | CN110828285B | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 出水秀明 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01J49/40 | 分类号: | H01J49/40;H01J49/00;H01J49/02;H01J49/06;G01N27/62;G01N27/68 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种飞行时间质谱分析装置和记录介质。在高分辨率化、高精度化的飞行时间质谱分析装置中,有可能由于空间电荷效应导致测量精度下降。飞行时间质谱分析装置具备飞行管(14)、与飞行管(14)连接的离子导入部(1)、检测在飞行管(14)内飞行的离子的离子检测器(20)以及控制离子导入部(1)和飞行管(14)的控制部(30),其中,控制部(30)在重复进行的多次测量中依次变更由离子导入部(1)导入到飞行管(14)的离子的累积状态。 | ||
搜索关键词: | 飞行 时间 谱分析 装置 记录 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所,未经株式会社岛津制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910730755.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电阻式存储器装置
- 下一篇:具有半导体性栅极的场效应晶体管