[发明专利]一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法在审
| 申请号： | 201910732156.1 | 申请日： | 2019-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN110484981A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 余韫瑶;吴小宝;姚芳;余灯广 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学附属初级中学;上海理工大学 |
| 主分类号： | D01D5/00 | 分类号： | D01D5/00 |
| 代理公司： | 31001 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 王婧<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 200093*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，包括：施加不同的电压进行静电纺丝，测量静电纺丝过程中聚合物流体形成的泰勒锥的高度并通过扫描电子显微镜测定所得纳米纤维的直径，建立泰勒锥的高度和纳米纤维的直径之间的线性关系，基于此线性关系，通过测量泰勒锥的高度预测纳米纤维直径。本发明能够为电纺纳米纤维的工业化生产和商业应用提供强有力的监控和检测工具。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米纤维 泰勒锥 线性关系 电纺 扫描电子显微镜测定 监控和检测 聚合物流体 测量静电 静电纺丝 商业应用 预测 纺丝 测量 施加 | ||
【主权项】：
1.一种基于泰勒锥高度预测电纺纳米纤维直径的方法，其特征在于，包括：施加不同的电压进行静电纺丝，测量静电纺丝过程中聚合物流体形成的泰勒锥的高度并通过扫描电子显微镜测定所得纳米纤维的直径，建立泰勒锥的高度和纳米纤维的直径之间的线性关系，基于此线性关系，通过测量泰勒锥的高度预测纳米纤维直径。/n
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