[发明专利]一种干涉仪及测量保偏光纤及偏振器件偏振耦合的方法

摘要

本发明公开了一种干涉仪及测量保偏光纤及偏振器件偏振耦合的方法，属于测试技术领域，干涉仪，包括偏振分束棱镜、偏振片、第一1/4波片、第二1/4波片、参考镜、测量镜和光电探测器；偏振片、第一1/4波片、第二1/4波片、参考镜、测量镜和光电探测器以偏振分束棱镜为中心放置，其中，偏振分束棱镜、第一1/4波片、测量镜从左到右依次排列放置，参考镜、第二1/4波片、偏振分束棱镜、偏振片、光电探测器从上到下依次排列放置。本发明通过采用偏振分束棱镜和偏振片的组合，使得两束正交偏振光的分离和合束干涉可以在一个组合器件上同时实现，解决了现有技术方案中存在的多次耦合、光路结构复杂的问题。

主权项

1.一种干涉仪，其特征在于：包括偏振分束棱镜、偏振片、第一1/4波片、第二1/4波片、参考镜、测量镜和光电探测器；偏振片、第一1/4波片、第二1/4波片、参考镜、测量镜和光电探测器以偏振分束棱镜为中心放置，其中，偏振分束棱镜、第一1/4波片、测量镜从左到右依次排列放置，参考镜、第二1/4波片、偏振分束棱镜、偏振片、光电探测器从上到下依次排列放置；偏振分束棱镜，被配置为用于将垂直入射的一束椭圆偏振光分为两束正交的P偏振光和S偏振光；第一1/4波片、第二1/4波片，被配置为用于将偏振光的偏振方向进行偏转；测量镜，被配置为用于将透射的P偏振光进行反射；参考镜，被配置为用于将反射的S偏振光进行反射；偏振片，被配置为用于将从偏振分束棱镜出射的两束正交的P’偏振光和S’偏振光进行干涉；光电探测器，被配置为用于接收干涉后的信号并进行测量；偏振分束棱镜将垂直入射的一束椭圆偏振光分为两束正交的P偏振光和S偏振光；其中，透射的P偏振光作为测量光，通过第一1/4波片，从线偏振光变为圆偏振光，然后进入测量镜，经测量镜反射后，第二次进入第一1/4波片，从圆偏振光变回线偏振光，偏振方向发生90°偏转，变为S’偏振光进入偏振分束棱镜，被偏振分束棱镜反射后进入偏振片；反射的S偏振光作为参考光，通过第二1/4波片，从线偏振光变为圆偏振光，然后进入参考镜，经参考镜反射后，第二次进入第二1/4波片，从圆偏振光变回线偏振光，偏振方向发生90°偏转，变为P’偏振光进入偏振分束棱镜，被偏振分束棱镜透射后进入偏振片；从偏振分束棱镜出射的两束正交的P’偏振光和S’偏振光通过偏振片后发生干涉，由光电探测器接收测量。