[发明专利]检测存储器数据处理速度的方法及装置在审
| 申请号： | 201910745761.2 | 申请日： | 2019-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN110570898A | 公开（公告）日： | 2019-12-13 |
| 发明（设计）人： | 李创锋;吳明栩 | 申请（专利权）人： | 深圳市金泰克半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 44481 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 | 代理人： | 曹萌 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及本发明公开了一种检测存储器数据处理速度的方法及装置，所述方法包括：对目标数据块按照第一处理速度进行数据处理操作，获取目标数据块内产生的第一坏块区域；提高对目标数据块的数据处理速度，对目标数据块按照第二处理速度进行数据处理操作，获取目标数据块进行数据处理操作后产生的第二坏块区域；判断第一坏块区域与第二坏块区域是否有差异，当存在差异时，将第二处理速度作为存储器的最高数据处理速度。通过判断慢速时目标数据块产生的坏块区域与提速后目标数据块产生的坏块区域是否有差异，即可得知存储器是否能够承受提速后的操作速度，获得存储器的最高数据处理速度，将存储器匹配对应数据处理速度的产品，节约制定成本。 | ||
| 搜索关键词： | 坏块 目标数据块 存储器 数据处理 数据处理操作 获取目标 数据块 提速 种检测 慢速 匹配 节约 申请 制定 | ||
【主权项】：
1.一种检测存储器数据处理速度的方法，其特征在于，所述方法包括：/n从存储器中提取目标数据块；/n在固定时间段内，对所述目标数据块按照第一处理速度进行数据处理操作，/n获取所述目标数据块内在所述固定时间段内产生的第一坏块区域；/n提高对所述目标数据块的数据处理速度至第二处理速度，/n对所述目标数据块按照第二处理速度进行固定时间段的数据处理操作，/n获取所述目标数据块在固定时间段内按照第二处理速度进行数据处理操作后产生的第二坏块区域；/n判断所述第一坏块区域与所述第二坏块区域是否有差异，/n当第一坏块坏块区域与第二坏块区域存在差异时，将所述第二处理速度作为所述存储器的最高数据处理速度；/n其中，所述数据处理操作顺序为数据擦除、数据写入和数据读取。/n
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