[发明专利]红外高光谱图像非均匀性校正方法、装置和计算机设备有效
| 申请号： | 201910749257.X | 申请日： | 2019-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN110487412B | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 陈艳;王淑华;王广平;雷浩;陈伟力 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 张沫 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及图像处理技术领域，提供了一种红外高光谱图像非均匀性校正方法、装置、计算机设备和存储介质，包括：获取探测器阵列中各探测单元的响应曲线，将各探测单元的响应曲线归一化得到平均响应曲线；获取各光谱通道的图像，基于平均响应曲线对各光谱通道的图像进行两点法校正，得到各光谱通道上各像素的第一校正系数；根据各第一校正系数对各光谱通道进行非均匀性校正；获取各光谱通道对低温黑体真实响应值和平均响应值的第一差值，并获取各光谱通道对高温黑体真实响应值和平均响应值的第二差值；基于第一差值和第二差值获取光谱通道间的第二校正系数；根据第二校正系数对各光谱通道间进行非均匀性校正。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 光谱 图像 均匀 校正 方法 装置 计算机 设备 | ||
【主权项】：
1.一种红外高光谱图像非均匀性校正方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取探测器阵列中各探测单元的响应曲线，将各所述探测单元的所述响应曲线归一化得到平均响应曲线；/n获取各光谱通道的图像，基于所述平均响应曲线对各所述光谱通道的图像进行两点法校正，得到各所述光谱通道上各像素的第一校正系数；/n根据各所述第一校正系数对各所述光谱通道进行非均匀性校正；/n获取各所述光谱通道对低温黑体真实响应值和平均响应值的第一差值，并获取各所述光谱通道对高温黑体真实响应值和平均响应值的第二差值；/n基于所述第一差值和所述第二差值获取所述光谱通道间的第二校正系数；/n根据所述第二校正系数对各所述光谱通道间进行非均匀性校正。/n
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