[发明专利]金属多点裂纹电磁探伤系统在审

专利信息
申请号: 201910749454.1 申请日: 2019-08-14
公开(公告)号: CN110426450A 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 孙春光;曾星星;李光辉;何敏 申请(专利权)人: 上海海事大学
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90
代理公司: 上海互顺专利代理事务所(普通合伙) 31332 代理人: 成秋丽
地址: 201306 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种金属多点裂纹电磁探伤系统,包括:激励电路,用于生成并发送激励信号;信号采集电路,包括:用于接收激励信号产生一次磁场的第一线圈支路、用于接收激励信号产生一次磁场的第二线圈支路,用于在无损金属平面下使得第一线圈和第二线圈输出电压相同的第三线圈支路;将第一线圈和第二线圈水平置于待检测金属平面,并将第一线圈的电压作为第一检测信号,将第二线圈的电压作为第二检测信号;信号放大电路,用于接收信号采集电路上的第一检测信号和第二检测信号并进行差分放大,获得差分放大结果;控制器,与所述信号放大电路相连,用于根据差分放大结果确定金属裂纹。旨在通过线圈的电压改变实现金属裂缝的检测。
搜索关键词: 差分放大 激励信号 线圈支路 信号采集电路 信号放大电路 第二检测 电磁探伤 检测信号 金属平面 一次磁场 金属 激励电路 结果确定 金属裂纹 线圈输出 线圈水平 控制器 检测 无损 裂缝 发送
【主权项】:
1.一种金属多点裂纹电磁探伤系统,其特征在于,所述系统包括:激励电路,用于生成并发送激励信号;信号采集电路,包括:用于接收所述激励信号产生一次磁场的第一线圈支路、用于接收所述激励信号产生一次磁场的第二线圈支路,用于在无损金属平面下使得第一线圈和第二线圈输出电压相同的第三线圈支路;将所述第一线圈和所述第二线圈水平置于待检测金属平面,并将所述第一线圈的电压作为第一检测信号,将所述第二线圈的电压作为第二检测信号,其中,所述第一线圈串联于所述第一线圈支路,所述第二线圈串联于所述第二线圈支路;信号放大电路,用于接收所述信号采集电路上的第一检测信号和第二检测信号并进行差分放大,获得差分放大结果,其中,所述差分放大结果为直流信号;控制器,与所述信号放大电路相连,用于根据差分放大结果确定金属裂纹。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海海事大学,未经上海海事大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910749454.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top