[发明专利]一种高反射镜面形的测量装置在审

专利信息
申请号: 201910751630.5 申请日: 2019-08-14
公开(公告)号: CN110455501A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 宋治平 申请(专利权)人: 南京茂莱光学科技股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B11/24
代理公司: 32204 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 代理人: 李倩<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 211102江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种高反射镜面形的测量装置,包括光源、分光片、准直仪、标准镜以及CCD成像系统;标准镜的前表面镀有分光膜;光源发出的光束通过分光片后由准直仪将点光源转换成平行光,平行入射光Io在经过标准镜时,一部分光线由镀有分光膜的标准镜反射返回,另一部分光线通过标准镜后到达被测镜表面,由被测镜表面反射回来,由镀有分光膜标准镜反射返回的光线IR与由被测镜表面反射回来的光线在穿过标准镜后的光线It形成干涉光线返回至分光片,通过分光片反射后进入CCD成像系统,两路相干光的强度比It/IR为0.2~1。
搜索关键词: 标准镜 分光片 被测镜 分光膜 反射 表面反射 准直仪 返回 光源 测量装置 高反射镜 光束通过 光线通过 点光源 平行光 前表面 强度比 入射光 相干光 两路 面形 平行 穿过 干涉 转换
【主权项】:
1.一种高反射镜面形的测量装置,其特征在于:包括光源、分光片、准直仪、标准镜以及CCD成像系统;标准镜的前表面镀有分光膜;光源发出的光束通过分光片后由准直仪将入射光照射在标准镜上,入射光Io在经过标准镜时,一部分光线由镀有分光膜的标准镜反射返回,得到标准反射光线IR,另一部分光线通过标准镜后到达被测镜表面,由被测镜表面反射回来后再透过标准镜得到测量反射光线It,标准反射光线IR与测量反射光线It形成干涉光线返回至分光片,通过分光片反射后进入CCD成像系统,两路相干光的强度比It/IR为0.2~1。/n
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