[发明专利]电极结构、半导体结构和电极结构的制造方法有效

专利信息
申请号: 201910752870.7 申请日: 2019-08-15
公开(公告)号: CN110364524B 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: 杜益成;王猛;喻慧 申请(专利权)人: 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L21/822
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310051 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种电极结构,半导体结构以及电极结构的制造方法,所述电极结构包括半导体基底;由所述半导体基底上表面延伸至所述半导体基底内部的沟槽;由所述半导体基底的上表面延伸至所述半导体基底内部的接触区,以及填充在沟槽内部的填充材料,其中,所述接触区与所述沟槽外侧壁相接触。本发明的电极结构用于吸收半导体中电子/空穴,以防止半导体中的寄生结构导通。另外,所述电极结构的面积较小,降低了制造成本。
搜索关键词: 电极 结构 半导体 制造 方法
【主权项】:
1.一种电极结构,其特征在于,包括:半导体基底;由所述半导体基底的上表面延伸至所述半导体基底内部的沟槽;由所述半导体基底的上表面延伸至所述半导体基底内部的接触区,以及填充在沟槽内部的填充材料,其中,所述接触区与所述沟槽外侧壁相接触。
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