[发明专利]一种LVDT线性精度补偿工艺在审
申请号: | 201910753376.2 | 申请日: | 2019-08-15 |
公开(公告)号: | CN110440835A | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 林坤艺;孔致鹏;陈玉财;周胜仁;刘瑞林;柯银鸿;许静玲;翁新全 | 申请(专利权)人: | 厦门乃尔电子有限公司 |
主分类号: | G01D5/22 | 分类号: | G01D5/22;G01D3/036 |
代理公司: | 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 | 代理人: | 梁锦平 |
地址: | 361000 福建省厦*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开一种LVDT线性精度补偿工艺,首先,将绕线骨架、初级绕组、第一次级绕组、第二次级绕组、第一补偿线圈、第二补偿线圈作为线包组件的主要构成;然后,通过铁芯在绕线骨架的通孔内位移,分别测量得到相应的第一补偿线圈和第二补偿线圈的输出电压;接着,对线包组件进行灵敏度测试,根据实测输出灵敏度值判断补偿方案,使得全行程范围的灵敏度合格。本发明针对绕线空间小,同时要求位移行程大的LVDT结构提供了线性补偿方案,减小因绕线空间不足而导致铁芯末段漏磁的现象,可通过本发明补偿线圈测试方案得到相应的输出电压,并通过灵敏度公式和精度误差公式计算出准确的线圈补偿位置以及补偿匝数。 | ||
搜索关键词: | 补偿线圈 次级绕组 精度补偿 绕线骨架 绕线空间 输出电压 灵敏度 灵敏度测试 灵敏度公式 初级绕组 公式计算 精度误差 实测输出 铁芯末段 位移行程 线包组件 线圈补偿 线性补偿 包组件 全行程 对线 减小 漏磁 铁芯 通孔 匝数 测量 测试 | ||
【主权项】:
1.一种LVDT线性精度补偿工艺,其特征在于:首先,将绕线骨架、初级绕组、第一次级绕组、第二次级绕组、第一补偿线圈、第二补偿线圈作为线包组件的主要构成;然后,通过铁芯在绕线骨架的通孔内位移,分别测量得到相应的第一补偿线圈和第二补偿线圈的输出电压;接着,对线包组件进行灵敏度测试,根据实测输出灵敏度值判断补偿方案,使得全行程范围的灵敏度合格。
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