[发明专利]利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法有效

专利信息
申请号: 201910759697.3 申请日: 2019-08-16
公开(公告)号: CN110455742B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 杨玉平;张成 申请(专利权)人: 中央民族大学
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586;G01N21/41;G01N27/22
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 黄爽
地址: 100083 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法,包括:将AFB1、AFB2纯品与聚乙烯粉末混合压片,采用太赫兹时域光谱系统分别获取压片样品在0.5‑2.5THz范围内的太赫兹光谱数据;先用平板介质模型计算出压片样品的折射率与吸收系数,再用有效介质模型计算出AFB1、AFB2纯品的折射率与介电常数,比较AFB1、AFB2压片样品的折射率与吸收系数以及纯品的折射率与介电常数,为待测样品中AFB1、AFB2的鉴定提供参考依据。本发明通过无损、非接触的测量能够表征黄曲霉毒素B1和B2宏观光学性质的物理量在太赫兹波段的精确数值,为该类样品的快速、无损检测与识别提供有效手段。
搜索关键词: 利用 赫兹 时域 光谱 技术 鉴别 黄曲霉 毒素 b1 b2 方法
【主权项】:
1.利用太赫兹时域光谱技术鉴别黄曲霉毒素B1和B2的方法,其特征在于,所述方法包括:先利用压片法分别将黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品与聚乙烯粉末按比例混合压片,采用太赫兹时域光谱系统分别获取压片样品在0.50-2.50THz范围内的太赫兹光谱数据;先利用平板介质模型分别计算出压片样品的折射率与吸收系数,再利用有效介质模型分别计算出目标成分黄曲霉毒素B1、B2的折射率与介电常数,然后,分析比较黄曲霉毒素B1、B2压片样品的折射率与吸收系数以及黄曲霉毒素B1、B2粉末纯品的折射率与介电常数,为待测样品中黄曲霉毒素B1、B2的鉴定提供参考依据;最后,将黄曲霉毒素B1和B2粉末纯品替换成待测样品,按照上述方法对待测样品进行测定和鉴别。/n
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