[发明专利]介电常数的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201910759990.X | 申请日： | 2019-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN110470909B | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 孙龙;陈兵 | 申请（专利权）人： | 广东浪潮大数据研究有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 钱娜 |
| 地址： | 510620 广东省广州市天河区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了一种介电常数的测试方法及装置。其中，该方法是对成品的待测试电路板进行测试的。测试步骤包括：获取待测试电路板中各个待测试链路的散射参数、待测试链路的横截面尺寸以及待测试电路板的横截面尺寸；根据上述的待测试链路的散射参数、待测试链路的横截面尺寸以及待测试电路板的横截面尺寸，得到介电常数与频点的映射关系；根据该映射关系，确定出频宽范围；根据频宽范围以及介电常数与频点的映射关系，确定出任一频点对应的介电常数。以该方法测试得到的介电常数是对成品的待测试电路板进行测试的，避免了在待测试电路生产过程中测试而引起的因高温产生的介电常数误差。 | ||
| 搜索关键词： | 介电常数 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种介电常数的测试方法，其特征在于，包括：/n获取待测试电路板中待测试链路对应的散射参数；/n获取所述待测试链路的横截面尺寸以及所述待测试电路板的横截面尺寸；/n根据所述散射参数、所述待测试链路的横截面尺寸以及所述待测试电路板的横截面尺寸，得到介电常数与频点的映射关系；/n根据所述介电常数与频点的映射关系，确定频宽范围；/n根据所述介电常数与频点的映射关系以及所述频宽范围，得到所述频宽范围内任一频点对应的介电常数。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东浪潮大数据研究有限公司，未经广东浪潮大数据研究有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910759990.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
