[发明专利]一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质有效
申请号: | 201910760802.5 | 申请日: | 2019-08-16 |
公开(公告)号: | CN110516335B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 党杰 | 申请(专利权)人: | 广东浪潮大数据研究有限公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王晓坤 |
地址: | 510620 广东省广州市天河区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请公开了一种辐射风险评估方法、装置及电子设备和存储介质,该方法包括:基于产品设计模型确定待评估风险信号,判断待评估风险信号是否具有周期性;若是,则确定待评估风险信号对应的频谱幅值;获取辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离;利用频谱幅值、电流强度以及距离计算得到待评估风险信号的辐射强度;根据辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。本申请利用辐射源的电流强度、待评估风险信号与辐射源之间的距离计算得到待评估风险信号的辐射强度,实现了辐射风险的定量评估;且本申请基于产品设计模型确定待评估风险信号,无需等到产品生产后期才进行辐射测试,有效降低了后期由于辐射风险较大进行整改所耗费的人力物力。 | ||
搜索关键词: | 一种 辐射 风险 评估 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种辐射风险评估方法,其特征在于,包括:/n基于产品设计模型确定待评估风险信号,并判断所述待评估风险信号是否具有周期性;/n若是,则确定所述待评估风险信号对应的频谱幅值;/n获取辐射源的电流强度、所述待评估风险信号与所述辐射源之间的距离;/n利用所述频谱幅值、所述电流强度以及所述距离计算得到所述待评估风险信号的辐射强度;/n根据所述辐射强度确定对应的辐射风险评估结果。/n
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