[发明专利]MOSFET测试装置在审

专利信息
申请号: 201910765154.2 申请日: 2019-08-19
公开(公告)号: CN110531241A 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 杨炜光 申请(专利权)人: 西安易恩电气科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 61225 西安毅联专利代理有限公司 代理人: 师玮<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 710000 陕西省西安市高陵区融*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种MOSFET测试装置,包括:控制板,用于控制继电器输出控制信号;电压器,用于产生电压小信号;脉变变压器,与被测元件的发射极和集电极电连接,用于对所述电压器产生的电压小信号进行层层放大,使电压小信号放大成高额电压信号;监测单元,通过测试电路监测被测元件的参数信息。本发明通过控制板对内部功率源激励产生脉冲信号,电压器产生电压小信号,通过脉变电路,层层放大,使其达到2000V的高额电压信号,测试电路对待测器件进行测试,具有精度高、测试速度快的优点。
搜索关键词: 电压小信号 电压器 放大 被测元件 测试电路 电压信号 控制板 控制继电器 测试 参数信息 测试装置 监测单元 脉冲信号 输出控制 电连接 发射极 功率源 集电极 变电 变压器 监测
【主权项】:
1.MOSFET测试装置,其特征在于,包括:/n控制板,用于控制继电器给各功率源输出控制信号;/n电压器,用于产生±35V或±65V电压信号;/n脉冲变压器,与MOSFET的发射极和集电极电连接,用于对所述电压器产生的电压信号层层放大,使其放大成两路高额电压信号;/n监测单元,通过测试电路监测MOSFET的参数信息。/n
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