[发明专利]校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质在审
| 申请号： | 201910765340.6 | 申请日： | 2019-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN112394825A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 郭恒军 | 申请（专利权）人： | 北京小米移动软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 魏嘉熹 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清河*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种校准电容式触控模组的方法、装置和存储介质，该方法包括：针对任一所述触控区域，获取所述触控区域内的所述触控节点的触控参数；基于所述触控参数判断所述触控区域是否为异常触控区域；如果所述触控区域为异常触控区域，则基于所述触控参数修正所述异常触控区域内的触控节点的触控参数，以使得所述异常触控区域内的触控节点的触控参数位于预设正常范围。即在判断出触控模组的异常触控区域后，基于获取的触控参数修正异常触控区域内的触控节点的触控参数，使其位于预设正常范围内，进而减小触控模组异常现象出现的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 电容 式触控 模组 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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