[发明专利]玻璃析晶温度的测试方法在审
| 申请号： | 201910765909.9 | 申请日： | 2019-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN110455798A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 李青;李赫然;胡正宜;刘再进;宫汝华;何根;张晓燕;刘宝石;陈佳佳 | 申请（专利权）人： | 四川旭虹光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N1/28;G01N1/44;G01N1/34;G01N1/32 |
| 代理公司： | 11283 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘兵;戴香芸<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 621000四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及玻璃性能检测领域，公开了一种玻璃析晶温度的测试方法，该方法包括：S1.将玻璃颗粒进行热处理；S2.将经热处理后的玻璃颗粒进行表面蚀刻处理；S3.利用偏光显微镜测试玻璃的析晶温度。本发明提供的玻璃析晶温度的测试方法，可消除纸样过程中带入杂质对析晶温度测试的影响，同时通过对析晶的表面进行蚀刻处理，更清晰明显地观测析晶形貌，避免析晶太小而产生漏判，极大地提高了析晶温度的测试结果的可信性。 | ||
| 搜索关键词： | 析晶 热处理 玻璃颗粒 玻璃 形貌 偏光显微镜 测试 表面蚀刻 测试玻璃 蚀刻处理 温度测试 性能检测 可信性 纸样 观测 清晰 | ||
【主权项】：
1.一种玻璃析晶温度的测试方法，其特征在于，该方法包括：/nS1.将玻璃颗粒进行热处理；/nS2.将经热处理后的玻璃颗粒进行表面蚀刻处理；/nS3.利用偏光显微镜测试玻璃的析晶温度。/n
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