[发明专利]针对调制器衍射效应优化的投影仪

摘要

本公开的实施例涉及针对调制器衍射效应优化的投影仪。一种光学系统，包括微镜阵列光学调制器，该微镜阵列光学调制器能够基于到微镜的开启状态或关闭状态的命令选择性地调制具有定义的窄光谱带宽的入射光束，以将数据编码在其上。微镜阵列光学调制器能够通过衍射和反射对光进行重定向以提供输出调制光束，该输出调制光束表现为衍射偏手性相关的，该衍射偏手性通过部分取决于入射在其上的光的窄光谱带宽的衍射阶的排列来描述。光学元件具有用于定义调制光束的被阻挡的部分以及被透射的剩余部分的优化的限制性孔径。光学地透射的调制光束的开启状态效率和关闭状态对比度可以取决于与优化的限制性孔径的尺寸和形状相关的输出调制光束的衍射偏手性。

主权项

1.一种表征光显示系统的第一微镜阵列光学调制器和第二微镜阵列光学调制器的性能的方法，所述方法包括：/n(a)检测产生自所述第一微镜阵列光学调制器上的第一入射光束的光的衍射阶的细节，或测量产生自所述第一微镜阵列光学调制器上的第一入射光束的光收集效率和对比度，所述第一微镜阵列光学调制器相对于光学元件，如以开启状态条件和关闭状态条件控制地、正在调制所述第一入射光束的光谱带宽，所述光学元件具有透射调制光束的部分、并且阻挡所述调制光束的剩余部分的尺寸和形状的孔径；/n(b)从所述光显示系统中的使用中移除所述第一微镜阵列光学调制器，并将所述第二微镜阵列光学调制器放置到所述光显示系统的使用中；/n(c)检测产生自所述第二微镜阵列光学调制器上的所述第二入射光束的光的衍射阶的所述细节，或测量产生自所述第二微镜阵列光学调制器上的所述第二入射光束的所述光收集效率和所述对比度，所述第二微镜阵列光学调制器相对于所述光学元件，如以所述开启状态条件和所述关闭状态条件控制地、正在调制所述第二入射光束；以及/n(d)基于针对所述第一微镜阵列光学调制器和所述第二微镜阵列光学调制器的每个微镜阵列光学调制器检测到的光的衍射阶的所述细节、或测量的所述光收集效率和所述对比度，对所述第一微镜阵列光学调制器或所述第二微镜阵列光学调制器进行分类。/n