[发明专利]绝缘材料体积电阻率测量系统及其控制方法在审
| 申请号： | 201910772779.1 | 申请日： | 2019-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN112415274A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 彭静;张长征;王伟;井谦;刘志强;何远华;刘于新 | 申请（专利权）人： | 西安高压电器研究院有限责任公司;中国西电电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 夏菁 |
| 地址： | 710077 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种绝缘材料体积电阻率测量系统及其控制方法，属于高压电器技术领域，系统包括对待测绝缘材料的传导电流进行采样的取样电路，将取样电路采集的传导电流转换为数据采集卡可以接收的范围的传导电流调理电路；传导电流调理电路包括电压跟随器、多级放大器和继电器。电压跟随器的输入阻抗较大，具有较好的阻抗隔离效果，在将电压信号传给数据采集卡的同时不受数据采集卡导通瞬间阻抗变化的影响，提高了信号采集精度。多级放大器可实现对不同大小的传导电流进行适当放大，使得输入到数据采集卡的数据在合适范围内，确保了信号采集精度。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘材料 体积 电阻率 测量 系统 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
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