[发明专利]基于深层离子注入方式的倒置四结太阳电池抗位移辐照加固方法在审
申请号: | 201910775586.1 | 申请日: | 2019-08-21 |
公开(公告)号: | CN110491970A | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 张延清;齐春华;王天琦;马国亮;刘超铭;陈肇宇;王新胜;李何依;周佳明;霍明学 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/265 |
代理公司: | 23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人: | 于歌<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙;23 |
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摘要: | 基于深层离子注入方式的倒置四结太阳电池抗位移辐照加固方法,属于微电子技术领域,本发明为解决现有倒置四结太阳电池在空间带电粒子的辐照下抗位移辐照能力差,易产生位移辐射损伤,从而严重地影响太阳电池的性能参数的问题。本发明向倒置四结太阳电池的第四结有源区和第三结有源区模拟注入离子,获得离子能量和射程信息,模拟I‑V特性,记录与未注入离子时的I‑V特性变化量小于10%时的注入离子量,计算注入离子电压和离子束电流,设置注入离子时间,采用设置后的注入离子机进行离子注入,对完成离子注入的倒置四结太阳电池进行退火处理。本发明用于对倒置四结太阳电池进行抗位移辐照加固。 | ||
搜索关键词: | 注入离子 倒置 辐照 源区 离子 微电子技术领域 空间带电粒子 离子注入方式 离子束电流 辐照能力 离子能量 特性变化 退火处理 性能参数 射程 损伤 辐射 记录 | ||
【主权项】:
1.基于深层离子注入方式的倒置四结太阳电池抗位移辐照加固方法,其特征在于,该加固方法的具体过程为:/nS1、根据倒置四结太阳电池的结构参数,向倒置四结太阳电池的第四结有源区和第三结有源区模拟注入离子,分别获得第四结有源区和第三结有源区注入离子的离子能量和射程信息;/nS2、分别模拟第四结有源区未注入离子和模拟注入离子后的I-V特性,改变注入离子量,使模拟注入离子后的I-V特性与未注入离子的I-V特性的变化量小于10%,记录第四结有源区的注入离子量;/nS3、根据S1获取的第四结有源区注入离子的离子能量和射程信息,以及S2获取的第四结有源区注入离子量,计算注入离子机的第四结有源区注入离子电压和离子束电流;/nS4、分别模拟第三结有源区未注入离子和模拟注入离子后的I-V特性,改变注入离子量,使模拟注入离子后的I-V特性与未注入离子的I-V特性的变化量小于10%,记录第三结有源区的注入离子量;/nS5、根据S1获取的第三结有源区注入离子的离子能量和射程信息,以及S4获取的第三结有源区注入离子量,计算注入离子机的第三结有源区注入离子电压和离子束电流;/nS6、分别设置第四结有源区和第三结有源区的注入离子时间;/nS7、根据注入离子机的注入离子电压、离子束电流和注入离子时间对注入离子机进行设置;/nS8、采用注入离子机对倒置四结太阳电池的第四结有源区和第三结有源区分别进行离子注入;/nS9、对完成离子注入的倒置四结太阳电池进行退火处理。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的