[发明专利]一种校正井眼偏心对方位信号影响的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910777451.9 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN110454154B 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 范建保;陈文轩;张文秀 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;G06F30/23;G06T17/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 刘杰
地址: 100027 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种校正井眼偏心对方位信号影响的方法及装置,所述方法包括:在均匀地层的井眼三维模型中,获取轴向接收天线对应的轴向信号,第一方位接收天线对应的第一方位信号,以及第二方位接收天线对应的第二方位信号;基于所述轴向信号、第一方位信号与第二方位信号构建表示信号关系的多项式;根据多项式与所述井眼中的轴向接收天线接收的轴向实测信号,获得对井眼偏心进行校正的校正系数;根据校正系数对实测过程中的仪器在井眼中偏心时对井壁反射信号进行消除,获得表征地层边界距离的第三方位信号。本发明在消除井眼偏心影响时综合考虑了地层电导率的影响因素,对井眼偏心影响的抑制更加彻底,最终可更加准确的确定地层边界距离。
搜索关键词: 一种 校正 偏心 方位 信号 影响 方法 装置
【主权项】:
1.一种校正井眼偏心对方位信号影响的方法,其特征在于,所述方法包括:/n在均匀地层的井眼三维模型中,获取轴向接收天线对应的轴向信号,第一方位接收天线对应的第一方位信号,以及第二方位接收天线对应的第二方位信号;其中,所述轴向接收天线、所述第一方位接收天线和所述第二方位接收天线均为随钻方位电磁波电阻率仪器的天线;/n基于所述轴向信号、所述第一方位信号与所述第二方位信号构建表示信号关系的多项式;其中,所述信号关系为所述第一方位信号与所述第二方位信号之间的信号比值与所述轴向信号的关系;/n根据所述多项式与所述井眼中的所述轴向接收天线接收的轴向实测信号,获得对井眼偏心进行校正的校正系数;/n根据所述校正系数对实测过程中的仪器在井眼中偏心时对井壁反射信号进行消除,获得表征地层边界距离的第三方位信号。/n
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