[发明专利]一种适用于质量比较仪的校准装置及其校准方法在审
申请号: | 201910780760.1 | 申请日: | 2019-08-22 |
公开(公告)号: | CN110553712A | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 柯淑婷;陈露;韩玉华;柯钢;虞建忠;龙翔 | 申请(专利权)人: | 湖北省计量测试技术研究院 |
主分类号: | G01G23/01 | 分类号: | G01G23/01 |
代理公司: | 42224 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 李佑宏 |
地址: | 430223 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种适用于质量比较仪的校准装置及其校准方法,属于计量检定技术领域,通过对应设置的机架、试验台,以及设置在工作平台上的X轴组件、Y轴组件、Z轴组件和砝码库,利用X/Y/Z组件之间的相互配合与协同工作,可准确、快速地实现质量比较仪校准过程中各种形式的砝码取放,从而快速、准确地获取质量比较仪校准所需要的数据。本发明中的校准装置,其结构简单,操作方法简便、快捷,能有效提升质量比较仪校准过程的稳定性,减少校准过程中的人为操作工作量,减少人为取放砝码过程中所引入的误差,提升质量比较仪校准的效率和精度,具有较好的应用前景和推广价值。 | ||
搜索关键词: | 质量比较仪 校准过程 校准 砝码 校准装置 取放 工作平台 计量检定 质量比较 试验台 工作量 协同 引入 配合 应用 | ||
【主权项】:
1.一种适用于质量比较仪的校准装置,包括由支撑架和工作平台组成的机架,其特征在于,还包括试验台和设置在所述工作平台上的X轴组件、Y轴组件、Z轴组件;/n所述试验台包括设置在所述支撑架内并呈块状结构的台体,所述台体的底面固定在地面上,其顶面始终水平,并对应该台体的顶面在所述工作平台的中部开设有一定尺寸贯穿两端面的通孔,即限位孔,以用于质量比较仪的限位放置,且所述限位孔竖向正对的台体顶面上设置有限位件,用于所述质量比较仪的限位;/n所述Y轴组件包括平行分设于所述限位孔两侧的Y轴滑轨,所述Y轴滑轨固定在所述工作平台上,且各所述Y轴滑轨上分别设置有可沿Y轴滑轨轴向往复滑动的支架;所述X轴组件设置在两所述支架的顶部,其包括两端分别固定于两所述支架顶部的X轴滑轨,以及设置在所述X轴滑轨上并可沿该X轴滑轨轴向往复滑动的滑块;所述Z轴组件包括固定设置在所述滑块的底部的Z轴电机,该Z轴电机的输出轴端部朝下并可沿竖向往复伸缩,且所述Z轴电机的输出轴端部设置有夹具;/n同时,所述限位孔沿所述Y轴滑轨轴向的至少一侧的工作平台上设置有砝码库,所述砝码库中可容置若干砝码,且所述夹具可在X轴组件、Y轴组件和Z轴组件的组合带动下对准所述砝码,并将其夹取带动到限位于所述限位孔内的质量比较仪上。/n
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