[发明专利]一种TDM背板总线测试方法、测试装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910783737.8 申请日: 2019-08-23
公开(公告)号: CN110601801B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 孟庆晓;谭冰;郭军勇 申请(专利权)人: 深圳震有科技股份有限公司
主分类号: H04L1/20 分类号: H04L1/20;H04L12/26;G01R31/317
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 518057 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种TDM背板总线测试方法、测试装置及存储介质,所述TDM背板总线测试方法包括:当主控板、媒体板以及用户线路单板启动时,控制所述媒体板启动多个误比特率测试通道;将每个所述误比特率测试通道的时隙进行标记,并选取预设时隙作为所述用户线路单板中每个槽位的数据传输时隙;将每个所述误比特率测试通道的时隙与所述用户线路单板的时隙进行联网,并通过多个所述误比特率测试通道测试TDM背板总线的通断状态。本发明通过在媒体板上设置多条并行的误比特率测试通道,并通过多个误比特率测试通道同时对TDM背板总线进行测试,以提高对TDM背板总线的测试效率。
搜索关键词: 一种 tdm 背板 总线 测试 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
1.一种TDM背板总线测试方法,其特征在于,所述TDM背板总线测试方法包括以下步骤:/n当主控板、媒体板以及用户线路单板启动时,控制所述媒体板启动多个误比特率测试通道;/n将每个所述误比特率测试通道的时隙进行标记,并选取预设时隙作为所述用户线路单板中每个槽位的数据传输时隙;/n将每个所述误比特率测试通道的时隙与所述用户线路单板的时隙进行联网,并通过多个所述误比特率测试通道测试TDM背板总线的通断状态。/n
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