[发明专利]ATE快速获取存储器失效地址的方法在审
| 申请号： | 201910788133.2 | 申请日： | 2019-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN110504003A | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 舒颖;代瑞娟;郑鹏飞 | 申请（专利权）人： | 上海华力集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 31211 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 戴广志<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 201315 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ATE快速获取存储器失效地址的方法，扫瞄整个失效位抓取RAM时，不再从起始地址开始读，而是先从矢量RAM中读取第一个失效周期,获取该失效周期指向的地址引脚状态，构造以字符表示的地址引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系，然后将第一个失效周期对应的地址引脚状态转换成16进制行地址和列地址，将该行地址和列地址作为扫瞄整个失效位抓取RAM的起始地址。本发明能够合理使用ATE所存在的硬件资源，优化获取失效地址的方法，减少测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 地址引脚 失效周期 抓取 起始地址 失效地址 列地址 扫瞄 读取 存储器 快速获取 数值表示 引脚状态 硬件资源 状态转换 字符表示 矢量 行地址 进制 指向 测试 优化 | ||
【主权项】：
1.一种ATE快速获取存储器失效地址的方法，其特征在于，扫瞄整个失效位抓取RAM时，先从矢量RAM中读取第一个失效周期,获取该失效周期指向的地址引脚状态，构造以字符表示的地址引脚状态与以数值表示的引脚状态的对应关系，然后将第一个失效周期对应的地址引脚状态转换成16进制行地址和列地址，将该行地址和列地址作为扫瞄整个失效位抓取RAM的起始地址。/n
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