[发明专利]适用50-150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置有效
| 申请号： | 201910788369.6 | 申请日： | 2019-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN112432915B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 章俞之;马佳玉;吴岭南;宋力昕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;张力允 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种适用50‑150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置，该装置包括：傅里叶变换红外光谱测量系统、机械调制解调装置、辐射收集系统、真空低温信号辐射系统。傅里叶变换红外光谱测量系统，包括傅里叶变换红外光谱仪、计算机和连接装置；所述的机械调制解调系统，包括用以机械调制的斩波器及用以解调制的锁相放大器；斩波器的参考信号输出端与锁相放大器的参考信号输入端相连；锁相放大器的信号输入端与辐射热测量计的信号输出端相连，其输出端与电路控制板的输入端相连。所述的辐射收集系统，包括用于收集低温辐射信号的抛物面金镜和用于改变低温辐射信号传播方向的平面金镜。所述的真空低温信号辐射系统，包括氦气闭循环制冷机、样品台。 | ||
| 搜索关键词： | 适用 50 150 低温 材料 光谱 发射 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
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