[发明专利]针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质在审

专利信息
申请号: 201910790186.8 申请日: 2019-08-26
公开(公告)号: CN110441675A 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 陈圣俭;宋钱骞 申请(专利权)人: 北京旋极信息技术股份有限公司
主分类号: G01R31/316 分类号: G01R31/316
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 蒋冬梅;李丹
地址: 100094 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质,该方法包括:对待测的容差模拟电路系统进行划分,得到一个或多个子电路组合,每个子电路组合中包括至少两个相连的子电路;针对每一个子电路组合,确定每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点和每个子电路内的诊断用测试节点,并通过电路仿真,获取撕裂节点的电压仿真计算值和诊断用测试节点的电压仿真计算值区间;在BIT过程中,分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障。本申请公开的针对容差电路的机内测试方法、系统及计算机可读介质,可以实现容差模拟电路系统快速定位故障区域。
搜索关键词: 子电路 计算机可读介质 电压仿真计算 测试节点 机内测试 容差电路 模拟电路系统 诊断 容差 撕裂 快速定位故障 测试电压 电路仿真 电路组合 申请 电路
【主权项】:
1.一种针对容差电路的机内测试BIT方法,其特征在于,包括:对待测的容差模拟电路系统进行划分,得到一个或多个子电路组合,其中,每个子电路组合中包括至少两个相连的子电路;针对待测的容差模拟电路系统中的每一个子电路组合,确定每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点和每个子电路内的诊断用测试节点,并通过电路仿真,获取所述撕裂节点的电压仿真计算值和所述诊断用测试节点的电压仿真计算值区间;在BIT过程中,给每一个子电路组合中的每两个子电路之间的撕裂节点施加激励电压,采集每个子电路内的诊断用测试节点的测试电压值,并分别根据每个子电路内的诊断用测试节点的电压仿真计算值区间与测试电压值的比较结果来确定该子电路是否存在故障;其中,所述撕裂节点上施加的激励电压的电压值为所述撕裂节点的电压仿真计算值。
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