[发明专利]半导体存储装置及其制造方法在审
申请号: | 201910790471.X | 申请日: | 2019-08-26 |
公开(公告)号: | CN112435992A | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 朱一明;平尔萱 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L25/065 | 分类号: | H01L25/065;H01L25/18;H01L21/98 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孙佳胤;董琳 |
地址: | 230001 安徽省合肥市蜀山*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种半导体存储装置及其制造方法,所述半导体存储装置包括:第一存储芯片,所述第一存储芯片内形成有第一存储阵列;第二存储芯片,所述第二存储芯片内形成有第二存储阵列;所述第一存储芯片和所述第二存储芯片之间堆叠形成电连接,所述第一存储芯片内形成有第一电路、至少部分第二电路以及共用电路,所述第一电路用于控制所述第一存储阵列,所述第二电路用于控制所述的第二存储阵列,所述第一电路与所述第一存储阵列连接,所述第二电路与所述第二存储阵列连接,所述共用电路连接所述第一电路和第二电路。所述半导体存储装置的集成度和数据传输效率提高。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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