[发明专利]结构光测深系统、测量信息码深度的方法及数据处理方法有效
| 申请号： | 201910798809.6 | 申请日： | 2019-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN110502947B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 王昌奇;黄继欣;姚林昌;黄荣;成学平;黄治家 | 申请（专利权）人： | 深圳市杰普特光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K7/10 | 分类号： | G06K7/10 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 杨奇松 |
| 地址： | 518110 广东省深圳市龙华区观湖*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及结构光测深系统、测量信息码深度的方法及数据处理方法。系统包括：发射激光器、第一成像装置、点光源、第二成像装置以及PC终端。发射激光器用于发射结构光；第一成像装置用于获取经透明基板反射的结构光的结构光图像，并将结构光图像传输给PC终端，以使PC终端根据结构光图像确定透明基板上表面的位置，并控制第二成像装置从上表面的位置开始，按照预设间距从上至下获取不同位置处的信息码图像，以及还用于根据第二成像装置获取到的不同位置处的信息码图像确定获取信息码的最佳聚焦位置，并根据最佳聚焦位置计算出信息码所在位置到透明基板上表面的距离。该系统可改善传统显微镜系统存在的信息码读取率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 结构 测深 系统 测量 信息 深度 方法 数据处理 | ||
【主权项】：
1.一种结构光测深系统，其特征在于，包括：/n发射激光器，用于发射结构光，所述结构光以预设入射角度照射于位于水平面上的内置有信息码的透明基板表面，所述预设入射角度大于零小于90度；/n第一成像装置，位于所述结构光的反射光路上，用于获取经所述透明基板反射的结构光的结构光图像，并将所述结构光图像传输给PC终端；/n点光源，与所述透明基板位于同一水平面，用于发射照明光，以照亮所述透明基板内的信息码；/n第二成像装置，位于垂直于所述透明基板的Z轴方向上，可相对于Z轴方向上下移动，用于根据所述PC终端的控制获取不同位置处的信息码图像，并将获取到的不同位置处的信息码图像传输给所述PC终端；/n所述PC终端，用于根据所述结构光图像确定所述透明基板上表面的位置，并控制所述第二成像装置从所述上表面的位置开始，按照预设间距从上至下获取不同位置处的信息码图像，以及还用于根据所述第二成像装置获取到的不同位置处的信息码图像确定获取所述信息码的最佳聚焦位置，并根据所述最佳聚焦位置计算出所述信息码所在位置到所述透明基板上表面的距离。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市杰普特光电股份有限公司，未经深圳市杰普特光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910798809.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
