[发明专利]一种用于高速TIADC的同步自动校准方法有效
申请号: | 201910807795.X | 申请日: | 2019-08-29 |
公开(公告)号: | CN110572249B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 赵勇;叶芃;蒋俊;邱渡裕;曾浩 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H04L7/00 | 分类号: | H04L7/00 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于高速TIADC的同步自动校准方法,通过分析TIADC采样系统的时钟、同步信号及数据时钟的关系,得到SYNC和BUFR_RST同步复位信号的校准参数,然后按照获取的校准参数对TIADC采样系统进行同步自校准,从而能够提高校准速度和精度,且校准方法简单易行。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 高速 tiadc 同步 自动 校准 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于高速TIADC的同步自动校准方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(1)、获取复位信号BUFR_RST的调整宽度BW;/n(1.1)、设置ADC在测试模式下工作;/n(1.2)、设置BUFR_RST的调整步进为Bstep,以Bstep为步进,移动BUFR_RST,得到不同BUFR_RST值时采样数据的比较结果序列;/n(1.3)、分析比较结果序列,记录出现完整、连续0的个数,记为C0;/n(1.4)、计算BW:BW=Bstep×C0;/n(2)、当同步信号SYNC处于采样时钟SCLK的周期内时,获取参数St0;/n(2.1)、设置ADC在测试模式下工作;/n(2.2)、设置SYNC的调整步进SYNC_step,最大可调长度为N;/n(2.3)、可调长度从0开始,按照SYNC调整步进开始扫描BUFR_RST的可调区间,得到比较序列;/n(2.4)、分析比较序列,获取参数T0;/n(2.5)、计算SYNC调整步进值对应的BUFR_RST的理想设置值Bj;/n当可调长度为0时,SYNC调整步进对应BUFR_RST的理想设置值为Bj_0,DCLK的周期为T-dclk;那么,Bj_0=T-dclk÷2-T0-BW÷2,然后判断Bj_0,如果Bj_0<0,则令Bj_0=Bj_0+T-dclk,否则,Bj_0保持不变;/n(2.6)、将可调长度自加1,然后然后判断可调长度是否达到最大可调长度N,如果达到,则进入步骤(2.7),否则,返回至步骤(2.3);/n(2.7)、按照步骤(2.3)——(2.6)的方法,将所有调整步进SYNC_step调整SYNC后,得到一系列的Bj值,再将这一系列的Bj值组成Bj序列;/n(2.8)、分析Bj序列,如果某一当前的Bj值为Bj_m,下一个Bj的值为Bj_n,且满足|Bj_m-Bj_n|>M÷2时,M=SCLK÷Bstep,则表示突变发生,记录此时的m值,从而计算出参数St0:St0=SCLK-m×SYNC_step;/n(3)、实际采样时,当BW的左端处于DCLK的周期内时,获取参数Bt0;/n(3.1)、设置ADC在实际采样模式下工作,然后输入测试信号;/n(3.2)、设置BUFR_RST的调整步进为Bstep,最大可调长度为H;/n(3.3)、可调长度从0开始,按照BUFR_RST的调整步进获取ADC的采样数据;/n{y
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