[发明专利]半导体装置及半导体装置的制造方法在审

专利信息
申请号: 201910813308.0 申请日: 2011-02-14
公开(公告)号: CN110718557A 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 山崎舜平;乡户宏充 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/786
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 何欣亭;杨美灵
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 所公开的半导体装置,包括:绝缘层;嵌入在绝缘层中的源电极和漏电极;接触于绝缘层、源电极和漏电极的氧化物半导体层;覆盖氧化物半导体层的栅极绝缘层;以及栅极绝缘层上的栅电极。接触于氧化物半导体层的绝缘层的上表面的均方根(RMS)粗糙度是1nm以下。绝缘层的上表面与源电极的上表面有高度差,以及绝缘层的上表面与漏电极的上表面有高度差。优选高度差为5nm以上。本结构有助于抑制半导体装置的缺陷且实现其微型化。
搜索关键词: 绝缘层 上表面 高度差 漏电极 源电极 氧化物半导体层 半导体装置 栅极绝缘层 覆盖氧化物 微型化 半导体层 粗糙度 均方根 栅电极 优选 嵌入
【主权项】:
1.一种处理器,包括:/n寄存器阵列;/n算术逻辑单元,操作地连接到所述寄存器阵列;以及/n指令寄存器,操作地连接到所述算术逻辑单元,/n其中所述处理器的一部分包括第一晶体管和第二晶体管,以及/n其中所述第一晶体管的栅电极电连接到所述第二晶体管的源电极和漏电极之一。/n
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