[发明专利]一种基于频移反馈环路的激光频率漂移测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910817127.5 申请日: 2019-08-30
公开(公告)号: CN110657955B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 杨宏志;王磊;毛叶飞;高原 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J9/00
代理公司: 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 代理人: 左文
地址: 100081 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于电光相位调制频移反馈环路的激光频率漂移测量方法及系统,具有简捷、高效、且高精度等特点。其利用电光相位调制器的双边带调制特性在一个调制周期内产生一对脉冲,进而基于双脉冲间隔受控于激光频率的特性测量计算激光频率漂移。
搜索关键词: 一种 基于 反馈 环路 激光 频率 漂移 测量方法 系统
【主权项】:
1.一种基于电光相位调制频移反馈环路的激光频率漂移测量方法,其特征在于,所述方法包括:/n(1)将待测激光注入频移反馈环路,经过电光相位调制产生双边带移频;/n(2)所述待测激光在所述环路中传输一周的时间τ内,当所述电光相位调制的调制频率f
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