[发明专利]用于系统集成示波器以增强采样率和分辨率的方法和系统在审
| 申请号： | 201910822655.X | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN110873816A | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 赫尔诺特·许贝尔;伊恩·托马斯·麦克纳马拉 | 申请（专利权）人： | 恩智浦有限公司 |
| 主分类号： | G01R13/02 | 分类号： | G01R13/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴晓兵 |
| 地址： | 荷兰埃因霍温高科*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本说明书公开了用于实施芯片集成示波器(即，芯片示波器(CS))的方法和系统，所述芯片集成示波器是通过使用RF接收路径(包括放大器、滤波器、ADC、DSP)捕获并存储信号迹线来允许用户(在DUT(被测装置)内部和外部)对RF信号进行示波的特征。在一些实施例中，本说明书公开了用于通过使用子采样技术增强这些信号迹线的采样率和分辨率的方法和系统，其中后处理将子采样迹线(具有不同的相移，例如0°、90°、180°和270°)合并为单个迹线，所述单个迹线将呈现出高于用于收集这些子采样迹线的预定采样率的采样率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 系统集成 示波器 增强 采样率 分辨率 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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