[发明专利]基板制造方法、基板接合方法和半导体装置在审

专利信息
申请号: 201910822755.2 申请日: 2019-09-02
公开(公告)号: CN110518028A 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 龟井诚司;马富林 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L23/48
代理公司: 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 刘倜<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及基板制造方法、基板接合方法和半导体装置。一种基板制造方法,包括:提供衬底;在衬底上形成图案化的第一介质层,第一介质层包括第一开口和与第一开口相邻的第二开口;在第一介质层上形成材料层,材料层包括金属材料,材料层覆盖第一介质层并填充第一开口和第二开口;对材料层进行第一平坦化处理,以去除在第一介质层的上表面上的材料层,并形成在第一开口中的初始金属接合盘和在第二开口中的初始金属伪结构;对于初始金属接合盘和初始金属伪结构进行第二平坦化处理,以形成第一金属接合盘,第一金属接合盘具有凸部。所述基板可以是半导体晶片或半导体基板。
搜索关键词: 开口 介质层 金属接合 材料层 平坦化处理 基板制造 伪结构 衬底 半导体基板 半导体晶片 半导体装置 金属材料 金属 基板接合 形成材料 上表面 图案化 基板 去除 凸部 填充 覆盖
【主权项】:
1.一种基板制造方法,其特征在于,包括:/n提供衬底;/n在衬底上形成图案化的第一介质层,所述第一介质层包括第一开口和与第一开口相邻的第二开口;/n在所述第一介质层上形成材料层,所述材料层包括金属材料,所述材料层覆盖所述第一介质层并填充所述第一开口和第二开口;/n对所述材料层进行第一平坦化处理,以去除所述材料层在所述第一介质层的上表面上的部分,并形成在所述第一开口中的初始金属接合盘和在所述第二开口中的初始金属伪结构;/n对于所述初始金属接合盘和所述初始金属伪结构进行第二平坦化处理,以形成第一金属接合盘,所述第一金属接合盘具有凸部。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德淮半导体有限公司,未经德淮半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910822755.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top