[发明专利]加工环境测定装置在审
| 申请号： | 201910823085.6 | 申请日： | 2019-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN110874083A | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 上西大辅 | 申请（专利权）人： | 发那科株式会社 |
| 主分类号： | G05B19/401 | 分类号： | G05B19/401 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;郝庆芬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种加工环境测定装置，其不进行实际加工就能够根据各振动数据自动地确定有可能成为加工面不良的影响的振动源。加工环境测定装置具备：基准加工数据存储部，其存储了根据预先在理想的加工环境下测定的振动的时序数据而计算出的基准加工数据；数据取得部，其至少取得通过测定安装在加工机的主轴上的保持器的振动的保持器部测定传感器检测出的该保持器的振动的时序数据；分析部，其分析时序数据，计算表示该时序数据的特征的特征数据；比较判定部，其对表示时序数据的特征的特征数据和基准加工数据进行比较，判定加工机的加工环境；显示部，其显示比较判定部的判定的结果。 | ||
| 搜索关键词： | 加工 环境 测定 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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